АО «ВЗПП-С» «Исследование изменения характеристик опытных образцов МКМ в составе четырёх типов: МКМ1, МКМ2, МКМ3, МКМ4 при воздействии специальных факторов и определение стойкости к ним на моделирующих и имитирующих установках в соответствии с утвержденной программой-методикой испытаний»
11 750 000 рублей
руководитель Лавлинский В.В.
АО «ВЗПП-С» «Исследование изменения характеристик малопотребляющих КМОП интегральных микросхем управления затвором силовых МОП транзисторов и БТИЗ при воздействии специальных факторов 7И и определение стойкости к ним на моделирующих установках в соответствии с утвержденной программой-методикой испытаний»
2 000 000 рублей
руководитель Анциферова В.И.
АО «ВЗПП-С» «Исследование изменения характеристик диодов Шоттки на рабочее напряжение 18…200 ВSiC диодов Шоттки на рабочее напряжение 200…1200 В при воздействии специальных факторов и определение стойкости к ним на моделирующих и имитирующих установках в соответствии с утвержденной программой-методикой испытаний»
6 840 000 рублей
руководитель СкворцоваТ.В.
