На кафедре созданы оснащенные современным компьютерным оборудованием учебные залы, два из которых находятся в ОАО «Научно-исследовательский институт электронной техники» (НИИЭТ): компьютерный класс и лаборатория физического моделирования и научных исследований.
На вычислительной базе кафедры ВТиИС и НИИЭТ создан центр коллективного пользования для проектирования микросхем и проведения испытаний. Он оснащен высокопроизводительными аппаратными средствами и пакетами программных продуктов форм производителей САПР. Аппаратная платформа САПР ИС реализована на базе серверов и рабочих станций фирм SunMicrosystems и HewlettPackard. Дополнительно в качестве рабочих терминалов используются компьютеры Intel-архитектуры.
В настоящее время имеется комплекс оборудования для тестирования и испытания микросхем с количеством выводов до 512 на тактовой частоте до 100 МГц.
Тестирование пластин со структурами, исследование параметров макетных и опытных образцов микроконтроллеров и необходимые испытания выполняются в сертифицированной лаборатории (центре измерений и испытаний) НИИЭТ, оснащенной современными средствами автоматизированного контроля, испытательным и аналитическим оборудованием. В их число входит тестовая система функционального контроля "ИРБИС", позволяющая контролировать параметры СБИС с числом выводов до 512 на частоте до 100 МГц, прецизионная зондовая установка для пластин диаметром до 200 мм, уникальная микрокамера тепла и холода, тепловизор, позволяющий снимать картину тепловых полей кристаллов БИС и СБИС под нагрузкой и т.д.
Имеется также оборудование для проведения аналитических исследований и микроструктурного анализа (электронные микроскопы, газоанализаторы и спектрометры)
Материально-техническая база
